多組分紅外線(xiàn)氣體分析儀的分析依據是什么嗎？

多組分紅外線(xiàn)氣體分析儀，是利用紅外線(xiàn)進(jìn)行氣體分析。它基于待分析組分的濃度不同，吸收的輻射能不同.剩下的輻射能使得檢測器里的溫度升高不同，動(dòng)片薄膜兩邊所受的壓力不同，從而產(chǎn)生一個(gè)電容檢測器的電信號。這樣，就可間接測量出待分析組分的濃度。

　　多組分氣體分析儀是基于氣體對紅外光吸收的郎伯--比爾吸收定律，采用國際上的NDIR技術(shù)，如電調制紅外光源、高靈敏度濾光傳感一體化紅外傳感器、高精度前置放大電路、可拆卸式鍍膜氣室，局部恒溫控制技術(shù)等，實(shí)現不同濃度、不同氣體(SO2、NOX、CO2、CO、CH4等)的高精度連續檢測。

　　多組分紅外線(xiàn)氣體分析儀是根據比爾定律制成的。假定被測氣體為一個(gè)無(wú)限薄的平面。強度為k的紅外線(xiàn)垂直穿透它，則能量衰減的量為：I=I0e-KCL(比爾定律)

　　式中：

　　I--被介質(zhì)吸收的輻射強度；

　　I0--紅外線(xiàn)通過(guò)介質(zhì)前的輻射強度；

　　K--待分析組分對輻射波段的吸收系數；

　　C--待分析組分的氣體濃度；

　　L--氣室長(cháng)度(赦測氣體層的厚度)。

　　對于一臺制造好了的多組分紅外線(xiàn)氣體分析儀，其測量組分已定，即待分析組分對輻射波段的吸收系數k一定；紅外光源已定，即紅外線(xiàn)通過(guò)介質(zhì)前的輻射強度I0一定；氣室長(cháng)度L一定。從比爾定律可以看出：通過(guò)測量輻射能量的衰減I，就可確定待分析組分的濃度C了。