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簡(jiǎn)要描述：上海析譜薄膜固體測量?jì)xX3PCST透光率測試儀性能特點(diǎn)：1、PCST薄膜固體測試儀，采用了全新的光學(xué)平臺，ARM芯片控制和處理數據，人機交互操作，儀器單機具有透射測試，吸光度測試。 2、專(zhuān)業(yè)測試固體樣品、規格最小 φ1.0mm -500*500mm 厚度：0.01-100mm固體、護目鏡、薄膜、啤酒瓶、建筑玻璃、觸屏行業(yè)、紡織、珠寶鑒定、真空鍍膜等、單層、多層窗玻璃構件，光學(xué)性能的測定等
產(chǎn)品型號：廠(chǎng)商性質(zhì)：代理商更新時(shí)間：2023-04-18訪(fǎng) 問(wèn) 量：1713名 稱(chēng)：薄膜固體測試儀
型 號：X3PCST
品 牌：上海析譜
上海析譜薄膜固體測量?jì)xX3PCST透光率測試儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
X3PCST透光率測試儀（薄膜固體測試儀）是專(zhuān)為薄膜、玻璃、珠寶、紡織、手機屏、液晶顯示屏等制造行業(yè)設計的光譜測試儀。該儀器可以對手機屏、液晶顯示屏進(jìn)行定波長(cháng)測試和光譜掃描，是質(zhì)量監測的檢測工具。
優(yōu)勢：固體、薄膜、玻璃或者亞克力等 特薄、特厚、特大的樣品直接平放測試，方便快捷、測試數據更準確。
專(zhuān)業(yè)測試固體樣品、規格 φ5.0mm -500*500mm 厚度：0.01-100mm固體、薄膜、啤酒瓶、建筑玻璃、觸屏行業(yè)、紡織、珠寶鑒定、真空鍍膜等、單層、多層窗玻璃構件光學(xué)性能的測定等，儀器等級GB/T26798-2011 Ⅱ級.
開(kāi)機自校；聯(lián)PC操作端；軟件版本win10 光譜分析家。
優(yōu)勢：固體、薄膜、玻璃或者亞克力等 特薄、特厚、特大的樣品直接平放測試，方便快捷、測試數據更準確。
開(kāi)機自校；聯(lián)PC操作端；軟件版本UV9.0 win10 64位。
上海析譜薄膜固體測量?jì)xX3PCST透光率測試儀性能特點(diǎn)：
1、PCST薄膜固體測試儀，采用了全新的光學(xué)平臺，ARM芯片控制和處理數據，人機交互操作，儀器單機具有透射測試，吸光度測試。
2、專(zhuān)業(yè)測試固體樣品、規格最小 φ1.0mm -500*500mm 厚度：0.01-100mm固體、護目鏡、薄膜、啤酒瓶、建筑玻璃、觸屏行業(yè)、紡織、珠寶鑒定、真空鍍膜等、單層、多層窗玻璃構件，光學(xué)性能的測定等。
3、進(jìn)口環(huán)保型氘燈系統，有效減少您對臭氧的吸入；進(jìn)口OSRAM鎢燈座、OSRAM長(cháng)壽命鎢燈。
4、插座式氘燈和鎢燈設計，能使您在換燈后免去光學(xué)調試的煩惱；
5、寬大的樣品臺，專(zhuān)業(yè)測試：特薄、特小、特厚、特大件！測試更方便、更準確、更效率、不再需要任何薄膜夾具，
6、強大的存儲功能，能保存各種類(lèi)型的數據；
薄膜固體測試儀技術(shù)參數：
產(chǎn)品型號 | UV-2202PCST | X3PCST |
光學(xué)系統 | 單光束 C T 光路結構 1600條/mm 高性能衍射光柵 | |
光譜帶寬 | 0.5/1/2/4nm | |
波長(cháng)范圍 | 190—1100 nm | 325-1100nm |
波長(cháng)分辨率 | 0.1 nm 光學(xué)焦距200mm | |
數據顯示 | 2*20液晶顯示（標配UV win10 PC端） | |
波長(cháng)精度 | ±0.3nm (實(shí)測0.3nm)±0.1nm（@656.1nmD2,) | |
波長(cháng)重復性 | ≤0.2nm | |
雜散光 | ≤0.05%T | |
光度范圍 | 0-200%T，-0.301-3.0A，0-9999C | |
光度精度 | ±0.002A(0-0.5A), ±0.3%T(0-100%T) | |
光度重復性 | ±0.001A(0-0.5A), ±0.15%T(0-100%T) | |
電源 | AC 90-240V | |
標配：薄膜固體測試儀壹臺、應用軟件壹套、應用數據線(xiàn)一套、隨機資料一份 | ||
